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Pruebas de dureza

Equotip 550 Leeb

✔ Ready In Stock

Sistema de medición Leeb muy robusto y avanzado

  • Calidad, precisión y fiabilidad suizas combinadas con potentes funciones de software
  • La selección más amplia del mundo de sondas y tablas de conversión
  • Una carcasa totalmente resistente y sondas de larga duración.

Aplicaciones:

Ensayo de dureza de fundiciones, bridas, ejes y barras / tuberías / Control de calidad near-line / Superficies tratadas térmicamente

La mayor precisión, durabilidad y funcionalidad del inventor del método Leeb
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Fiabilidad
La inigualable vida útil de las sondas y los cuerpos de impacto, que dura cuatro veces más que otros productos en el mercado.
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Productividad
Viene con la cartera de sondas más completa, las tablas de conversión de materiales más amplias, incluida la investigación propia de Proceq y la conversión estándar más amplia del mundo.
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Experiencia de usuario
Informes listos para llevar a través de una potente función de informes integrada, junto con vistas totalmente personalizables, múltiples asistentes y asistente de selección de materiales.

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Equotip 550 Leeb Especificaciones técnicas
Sensor
Especificaciones técnicas
Software para PC
Equotip Link que permite la elaboración de informes directos y personalizados

Memoria
Memoria flash interna de 8 GB (> 1'000'000 de mediciones)

Pantalla
Pantalla táctil resistente de 7" (800 x 480 píxeles) con procesador de doble núcleo

Escala nativa
HLx (x: D, DC, DL, S, E, G, C)

Escalas disponibles
HB, HV, HRA, HRB, HRC, HS, MPA (σ1, σ2, σ3)

Sondas disponibles
Leeb D / DC / DL / S / E / G / C

Combinación con otros métodos
Portable Rockwell, UCI

Masa mínima de la muestra no acoplada (kg / lbs)
15 / 33 (Leeb G)
5 / 11 (Leeb D, DC, DL, E, S)
1,5 / 3,3 (Leeb C)

Masa mínima de la muestra acoplada (kg / lbs)
0,5 / 1,1 (Leeb G)
0,05 / 0,2 (Leeb D, DC, DL, E, S)
0,02 / 0,045 (Leeb C)

Espesor mínimo de la muestra no acoplada (mm / pulgadas)
70 / 2,73 (Leeb G)
25 / 0,98
15 / 0,59

Espesor mínimo de la muestra acoplada (mm / pulgada)
10 / 0,4 (Leeb G)
3 / 0,12 (Leeb D, DC, DL, E, S)
1 / 0,04 (LeebC)

Firmware del instrumento
Compensación automática de la dirección del impacto
Vistas y perfiles de usuario personalizados
Integración en entornos de prueba automatizados (incluido el control remoto)
11 idiomas y zona horaria compatibles
Asistentes de medición
Asistente de curvas personalizadas
Asistente de métodos combinados
Funciones de guía del usuario
Funciones de informes personalizados

Curvas de conversión personalizadas
Sí, desplazamiento de 1 punto, 2 puntos, polinomio

Conexiones
Host/dispositivo USB y Ethernet

Verificación según
ISO 16859, ASTM A 956, método personalizado, método combinado

Rango de medición
150 - 950 HL

Protección
IP54, totalmente resistente con carcasa que absorbe los golpes

Precisión de medición
± 4 HL (0,5% a 800 HL)

Coeficiente de variación
± 4 HL (0,5% a 800 HL)
Otros clientes también compraron:
Normas y directrices

Normas

  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ASTM A 370
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ASTM A 956
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ASTM E 140
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines DIN 50156
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines DL/T 1845 ( China )
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines GB/T 17394
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ISO 16859
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ISO 18265
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines JB/T 9378

Directrices

  • Arrow ASME CRTD-91
  • Arrow DGZfP Guideline MC 1
  • Arrow Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3
  • Arrow VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
PREGUNTAS FRECUENTES

¿Qué parámetros son importantes a la hora de elegir la sonda Leeb adecuada?

Masa mínima de la pieza probada
Requisitos mínimos para la rugosidad de la superficie (y el tiempo correspondiente)
Accesibilidad de la muestra
Microestructura de los materiales (los granos más gruesos se miden...

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¿Qué sonda Leeb tiene la energía de impacto más baja?

Es Sonda tipo C con 3 Nmm (vs 11 nMm para la sonda D), es apta para materiales tratados en superficie u objetos pequeños, sin embargo debe cumplir con los requisitos especificados por las normas y por Proceq.


¿Es Leeb fácil de usar?

Sí, es muy fácil y tiene una repetibilidad muy alta. La excepción es la sonda DL, que tiene presumiblemente una mayor inercia debido al cuerpo de impacto alargado y a la base inestable de la sonda. Debido a esto, se...

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¿Se pueden investigar objetos pequeños con Leeb?

Sí, pero sólo si siguen los requisitos especificados por Proceq. Las muestras pueden medirse como acopladas y desacopladas.

El grosor de la pared y la masa del objeto de ensayo pueden influir en el ensayo de dureza...

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