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Teste de dureza

Equotip 550 Leeb

Sistema de medição Leeb altamente robusto e avançado
  • Qualidade, precisão e confiabilidade Suíça combinadas com recursos de software poderosos
  • A seleção mais ampla de dispotivos e tabelas de conversão do mundo
  • Um invólucro totalmente robusto e dispositivos de longa duração

✔ Ready In Stock

Aplicações:

Teste de dureza de moldes, flanges, eixos e barras / tubos / Controle de qualidade próximo à linha / Superfícies tratadas termicamente

A mais alta precisão, durabilidade e funcionalidade do inventor do método Leeb
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Confiabilidade
A vida útil incomparável dos dispositivos e corpos de impacto, durando quatro vezes mais do que outros no mercado.
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Produtividade
Vem com o portfólio de dispositivos de impacto mais completo, as mais amplas tabelas de conversão de materiais, incluindo a própria pesquisa da Proceq e a conversão padrão mais ampla do mundo.
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Experiência do usuário
Relatórios prontos para uso por meio de um poderoso recurso integrado, juntamente com visualizações totalmente personalizáveis, vários assistentes e assistente de seleção de material.

Swiss Made
Software for
Software / Aplicação de espaço de trabalho
Especificações técnicas
Pc Software
Equotip Link permitindo relatórios directos e relatórios personalizados

Memória
Memória flash interna de 8 GB (> 1'000'000 medições)
Equotip 550 Leeb Especificações técnicas
Sensor
Especificações técnicas
Visor
7" unidade de ecrã táctil a cores (800 x 480 pixels) com processador dual core

Escala nativa
HLx (x: D, DC, DL, S, E, G, C)

Escalas disponíveis
HB, HV, HRA, HRB, HRC, HS, MPA (σ1, σ2, σ3)

Sondas disponíveis
Leeb D / DC / DL / S / E / G / C

Combinação com outros métodos
Portable Rockwell, UCI

Massa mínima não acoplada de espécimes (kg / lbs)
15 / 33 (Leeb G
)5 / 11 (Leeb D, DC, DL, E, S)
1.5 / 3.3 (Leeb C)

Massa Mínima de Espécimes Acoplados (kg / lbs)
0,5 / 1,1 (Leeb G)
0,05 / 0,2 (Leeb D, DC, DL, E, S)
0,02 / 0,045 (Leeb C)

Espessura Mínima de Espécime Desacoplado (mm / polegada)
70 / 0.4 (Leeb G)
25 / 0.1215
/ 0.04

Espessura mínima de espécime acoplado (mm / polegada)
10 / 0,04 (Leeb G)
3 / 0,12 (Leeb D, DC, DL, E, S)
1 / 0,04 (Leeb C)

Firmware
Compensação automática para direcção de
impactoPerfis de utilizador e vistas personalizadosIntegração
em ambientes de teste automatizados (incluindo controlo remoto)
11 Idiomas e fuso horário
suportadosMagentes de
medição

Assistente de curva
personalizadaMagente de método
combinadoCaracterísticas de orientação






do







utilizadorCaracterísticas de relatório
personalizadas

Curvas de conversão personalizadas
Sim, mudança de 1 ponto, 2 pontos, polinomial

Ligações
USB host / dispositivo e Ethernet

Verificação de acordo com
ISO 16859, ASTM A 956, método personalizado, método combinado

Faixa de medição
150 - 950 HL

Protecção
IP54, totalmente resistente com invólucro amortecedor de choques

Precisão de medição
± 4 HL (0,5% a 800 HL)

Coeficiente de variação
± 4 HL (0,5% a 800 HL)















Outros clientes também compraram:

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Normas e Directrizes

Padrões

  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ASTM A 370
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ASTM A 956
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ASTM E 140
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines DIN 50156
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines GB/T 17394
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ISO 16859
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ISO 18265
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines JB/T 9378

Directrizes

  • Arrow ASME CRTD-91
  • Arrow DGZfP Guideline MC 1
  • Arrow Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3
  • Arrow VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
FAQ

Que parâmetros são importantes ao escolher a sonda Leeb correcta?

Massa mínima da peça testada
Requisitos mínimos para a rugosidade da superfície (e tempo correspondente)
Amostra de acessibilidade
Microestrutura dos materiais (os grãos mais grossos são de preferência medidos pelas...

Ver Mais

Qual sonda Leeb tem a menor energia de impacto?

É a sonda do tipo C com 3 Nmm (vs. 11 nMm para a sonda D), é adequada para materiais com superfície tratada ou pequenos objetos, porém deve cumprir os requisitos especificados pelas normas e pela Proceq.


Leeb é fácil de usar ?

Sim, muito fácil e tem uma repetibilidade muito elevada. A excepção é uma sonda DL, que tem uma inércia presumivelmente mais elevada devido ao corpo de impacto alongado e base instável da sonda. Devido a isto, a...

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Podem os pequenos objectos ser investigados com Leeb?

Sim, mas apenas se seguirem os requisitos especificados pela Proceq. As amostras podem ser medidas como acopladas e desacopladas.

A espessura da parede e a massa do objecto de teste pode influenciar o teste de dureza de...

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