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Test di durezza

Equotip 550 Leeb

✔ Ready In Stock

Sistema di misurazione Leeb avanzato e molto robusto

  • Qualità svizzera, precisione e affidabilità combinate con potenti funzionalità software
  • La più ampia selezione al mondo di sonde e tabelle di conversione
  • Un involucro completamente robusto e sonde durature

Applicazioni:

Prove di durezza di getti, flange, alberi e barre/tubi / Controllo di qualità vicino alla linea / Superfici trattate termicamente

La massima precisione, durata e funzionalità dall'inventore del metodo Leeb
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Affidabilità
La durata senza pari di sonde e corpi d'impatto, che dura quattro volte di più rispetto ad altri sul mercato.
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Produttività
Viene fornito con il portafoglio di sonde più completo, le più ampie tabelle di conversione dei materiali, tra cui la ricerca di Proceq e la conversione standard più ampia al mondo.
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Esperienza utente
Rapporti pronti all'uso grazie alla potente funzione di reporting integrata, insieme a viste completamente personalizzabili, procedure guidate multiple e assistente per la selezione dei materiali.

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Equotip 550 Leeb Specifiche tecniche
Sensore
Specifiche tecniche
Software per PC
Equotip Link che consente la creazione di report diretti e personalizzati

Memoria
Memoria flash interna da 8 GB (> 1'000'000 di misure)

Display
Unità touchscreen rugged a colori da 7" (800 x 480 pixel) con processore dual core

Scala nativa
HLx (x: D, DC, DL, S, E, G, C)

Bilance disponibili
HB, HV, HRA, HRB, HRC, HS, MPA (σ1, σ2, σ3)

Sonde disponibili
Leeb D / DC / DL / S / E / G / C

Combinazione con altri metodi
Rockwell portatile, UCI

Massa minima del provino non accoppiato (kg / lbs)
15 / 33 (Leeb G)
5 / 11 (Leeb D, DC, DL, E, S)
1,5 / 3,3 (Leeb C)

Massa minima del provino accoppiato (kg)
0,5 / 1,1 (Leeb G)
0,05 / 0,2 (Leeb D, DC, DL, E, S)
0,02 / 0,045 (Leeb C)

Spessore minimo del provino non accoppiato (mm / pollici)
70 / 2,73 (Leeb G)
25 / 0,98
15 / 0,59

Spessore minimo del provino accoppiato (mm / pollice)
10 / 0,4 (Leeb G)
3 / 0,12 (Leeb D, DC, DL, E, S)
1 / 0,04 (Leeb C)

Firmware dello strumento
Compensazione automatica della direzione dell'impatto
Profili utente e visualizzazioni personalizzati
Integrazione in ambienti di test automatizzati (incl. controllo remoto)
11 lingue e fuso orario supportati
Maghi di misura
Creazione guidata curva personalizzata
Procedura guidata metodo combinato
Funzioni di guida per l'utente
Funzionalità di report personalizzati

Curve di conversione personalizzate
Sì, shift a 1 punto, 2 punti, polinomiale

Connessioni
USB host / dispositivo ed Ethernet

Verifica secondo
ISO 16859, ASTM A 956, metodo personalizzato, metodo combinato

Campo di misura
150 - 950 HL

Protezione
IP54, completamente robusto con involucro antiurto

Precisione di misura
± 4 HL (0,5% a 800 HL)

Coefficiente di variazione
± 4 HL (0,5% a 800 HL)
Altri clienti hanno anche acquistato:
Standard e linee guida

Standard

  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ASTM A 370
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ASTM A 956
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ASTM E 140
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines DIN 50156
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines DL/T 1845 ( Cina )
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines GB/T 17394
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ISO 16859
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ISO 18265
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines JB/T 9378

Linee guida

  • Arrow ASME CRTD-91
  • Arrow DGZfP Guideline MC 1
  • Arrow Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3
  • Arrow VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
FAQ

Quali parametri sono importanti quando si sceglie la giusta sonda Leeb?

Massa minima del pezzo testato
Requisiti minimi per la rugosità della superficie (e tempo corrispondente)
Accessibilità del campione
Microstruttura dei materiali (i grani più grossi sono misurati preferibilmente dalle...

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Quale sonda Leeb ha l'energia di impatto più bassa?

E' Sonda di tipo C con 3 Nmm (vs. 11 nMm per sonda D), è adatta per materiali trattati in superficie o piccoli oggetti, tuttavia deve soddisfare i requisiti specificati dalle norme e da Proceq.


Leeb è facile da usare?

Sì, molto facile e ha una ripetibilità molto alta. L'eccezione è una sonda DL, che ha presumibilmente un'inerzia maggiore a causa del corpo d'impatto allungato e della base instabile della sonda. A causa di questo, la...

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Si possono indagare piccoli oggetti con Leeb?

Sì, ma solo se seguono i requisiti specificati da Proceq. I campioni possono essere misurati come accoppiati e non accoppiati.

Lo spessore della parete e la massa dell'oggetto di prova possono influenzare la prova di...

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