源于里氏硬度测试发明者的高精确度、耐用性和功能性
可靠性
探头和冲击体的使用寿命长,比市场上其他产品的使用寿命长四倍。
高效率
配备完整的探头组合、广泛的材料转换表,包括 Proceq 自己的研究和世界上广泛的标准转换。
用户体验
通过强大的内置报告功能,以及完全可定制的视图、多个向导和材料选择助手,随时可用的报告。
Equotip 550 平台
技术规格
桌面软件 (Windows)
仪器
技术规格
标准和指南
标准
-
ASTM A 370
-
ASTM A 956
-
ASTM E 140
-
DIN 50156
-
DL/T 1845
(
中国
)
-
GB/T 17394
-
ISO 16859
-
ISO 18265
-
JB/T 9378
指南
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ASME CRTD-91
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DGZfP Guideline MC 1
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Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3
-
VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
常见问题
选择合适的 Leeb 探头时哪些参数很重要?
被测件的最小质量
表面粗糙度的最低要求(及对应的时间)
示例可访问性
材料微观结构(较粗的晶粒最好用较高冲击能量的探头测量
压痕(凹痕)深度和直径
哪种 Leeb 探针的冲击能量最低?
探头类型 C,3 Nmm(探头 D 为 11 nmm),适用于表面处理材料或小物体,但必须满足标准和 Proceq 规定的要求。
Leeb 好用吗?
是的,非常简单并且具有很高的可重复性。一个例外是 DL 探针,它可能具有较高的惯性,因为它的冲击体较长且探针的底座不稳定。因此,已知该探针略微依赖于用户。
可以用 Leeb 调查小物体吗?
下载
文件
- 技术规格PDF - Equotip 550 Leeb
- Equotip Application Booklet
- Equotip 550 Quick Start Guide
- Equotip 550 Certificates
- Equotip 550 包括Leeb U 操作说明
- Quick Charger Operating Instructions
- Conversion Curve Technical Note Equotip 550 (EN)
- Equotip 550 Third-Party Peripheral Device Integration Guide
- Equotip 550 Selection Guide
- Equotip Portable Hardness Testing Brochure